许智，男，出生于 1980 年 11 月，中国科学院物理研究所副研究员。2002 年在武汉大学获得学士学位，之后到中科院物理所攻读博士学位（硕博连读），研究方向为新型一维碳材料与透射电镜原位测量技术。2008 年春获得理学博士学位，留所工作至今。2006 年3 月至 2006 年6月访问美国斯坦福大学开展合作研究，2008年8月至 2010年8月访问日本国立材料研究所（NIMS）进行合作研究。作为主要人员参与了大型先进纳米表征与测量设备：原位微区结构分析与性质测试联合系统（TEM-STM 联合系统）的研制。目前研究方向为新型透射电镜原位测量技术的开发及其在纳米材料与纳米电子学研究中的应用。已在 J. Am. Chem. Soc.、Nano Lett.、 ACS Nano、Adv. Mater.、App. Phys. Lett.等各类高水平期刊上发表超过 30 篇研究论文，总引超过450次。2009 年获得北京市科学技术一等奖。