冯建华，男，博士，北京大学副教授，电子学会和计算机学会高级会员。分别于1986年7月、1995年3月和2000年4月在哈尔滨工业大学、西安电子科技大学和西安微电子技术研究所获学士、硕士和博士学位。1986年8月至2000年4月在西安微电子技术研究所工作，2000年5月至2002年4月在清华大学微电子学研究所做博士后工作，2002年5月至今在北京大学信息学院微电子学系和软件与微电子学院工作。目前主要研究领域包括VLSI可测试性设计、芯片安全检测、可靠性加固与预警、FPGA测试、SOC测试、基于TSV的3D IC测试、高速串行接口SerDes测试、混合信号和RF测试等。主持国家重大研究计划、国家自然科学基金和国家预研基金5项，曾获省部级一等奖1项，三等奖1项，合作出版著（译）作3部，申请专利12项（其中授权专利4项，专利转化2项），在国内外发表论文30多篇。主持开发了40多种集成电路验证和测试程序（SOC芯片、微处理器、DSP、GPS、手机芯片等），开发了基于ATE的FPGA测试软件1套。