混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现

作者：杨兵; 姜岩峰; 张东

来源：电子测试, 2010, (01): 48-54.

• IEEE1149.4
• ABM
• TBIC
• 边界扫描单元 IEEE1149.4
• ABM
• TBIC
• BSC

IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。本文以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证,完成对混合信号电路的参数测试。

• 单位
  北方工业大学; 北京自动测试技术研究所