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摘要
针对二值条纹的边缘扩散问题,本文提出了一种改进型线移的结构光三维测量方法。该方法根据图像像素的邻域关系和逻辑关系,采用优化预处理方法得到了条纹图像的单像素边缘;根据边缘扩散对边缘定位的影响,采用一种二值图案对称线移的方法,线移条纹以Gray码最后一幅图案的条纹中心为基准向两侧对称线移,线移条纹宽度与Gray码最小周期宽度相等、方向与Gray码条纹方向平行;采用正交投射实现了对测量视野的唯一性编码。实验结果表明,该方法对平面重构的相对误差为0.07%,耗时5.41 s,满足精度和实时性的要求。将该方法应用在混合物体的表面测量实验中,结果验证该方法对不同工件具有良好的适应性。
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