ADI公司测量工程“更上一层楼”的挑战

作者：Noel McNamara; Martina Mincica; Dominic Sloan; David Hanlon

来源：世界电子元器件, 2018, (06): 25-28.

<正>多年来,"更上一层楼"一直隐含在ADI公司战略中,但最近,由于专注于提供更多解决方案,这一战略已变得明确。追根溯源,曾经我们仅提供分立器件和数据手册。我们的新理念是参与并理解我们要为客户解决的问题的全部。作为该理念的一部分,ADI公司的测量工程已超越传统的仅测试IC的方法,转而测试解决方案,包括软件、封装中的信号链系统、微型模块和其他元件。这种方法将确保我们