摘要
采用FPGA+MCU主控制架构、单探头+主板双ADC信号采集电路设计及磁探头恒流源激励电路设计,实现宽量程、高精度磁场信号测量。相较于传统单片FPGA或MCU控制架构方案,融合了FPGA数据采集优势与MCU数据分析控制优势,采样速率快、精度高、运行稳定可靠。研制的磁场测试仪,从主板数据采集电路误差、磁探头温漂误差、磁场测试校准三个方面对系统误差进行补偿校准,实现0.3~20 T量程<3%磁场测量精度、采样速率1 MS/s,具备磁场测量、数据显示、参数设置、通信等功能。
-
单位中国科学院合肥物质科学研究院; 西南应用磁学研究所