基于LabVIEW和MCU的简易晶体管图示仪的设计与实现

作者:刘卫玲; 孔丽媛; 康明; 常晓明*
来源:仪表技术, 2019, (01): 17-20.
DOI:10.19432/j.cnki.issn1006-2394.2019.01.005

摘要

晶体管图示仪是测试晶体管特性的仪器,在晶体管筛选使用过程中发挥着重要作用,而传统的晶体管图示仪价格昂贵,故提出了一种基于Lab VIEW和MCU的晶体管图示仪。该系统由MCU、HIOKI 7016信号发生器及PC机构成,可实现二极管以及小功率三极管输出特性曲线的显示及数据存储。将该系统测试结果与WQ4828晶体管图示仪进行对比,相对误差维持在14%以内,作为简易晶体管图示仪,该系统可满足晶体管使用者的一般需求。