基于正电子湮没寿命谱研究Fe-6.5wt.%Si合金中热空位的生成

作者：韦晓; 王艳丽; 梁永锋; 叶丰; 林均品; 陈国良; 李卓昕; 王宝义

来源：南京大学学报(自然科学版), 2009, (02): 143-146.

• Fe-6.5wt.%Si合金
• 正电子湮没寿命
• 空位生成激活焓 Fe-6.5wt.%Si alloy
• positron annihilation lifetime
• vacancy formation enthalpies

正电子湮没技术(PAT)是一种无损伤的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度或电子动量分布的信息.由于正电子对原子尺度的缺陷非常敏感,所以正电子湮没技术(PAT)是研究纯金属及金属间化合物中热空位生成的有效工具.基于正电子寿命谱技术对金属间化合物Fe-6.5wt.%Si合金热轧板在不同温度退火后缺陷变化进行研究,发现了正电子平均寿命在673K左右迅速增加,673至1073K温度范围内平均正电子寿命的温度曲线为明显的S形状,1073K以上平均正电子寿命趋于常数,通过分析正电子平均寿命的温度变化曲线,得到了Fe-6.5wt.%Si合金中热空位生成的临界温度值,并计算得到了该合金的空位生成激活...

• 单位
  中国科学院高能物理研究所; 北京科技大学; 新金属材料国家重点实验室