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摘要
光束法自检校为一种经典的适合于非量测相机的检校算法,但其解算精度易受到大量像点坐标观测值的影响。本文讨论一种基于平面控制直线约束的非量测相机检校方法。该方法利用平面格网控制场中的直线特征对格网像点坐标及畸变参数进行直线几何约束。详细推导了该方法的直线约束方程,对检校实验结果从控制场格网点直线性、构像残差等方面进行分析。经实验验证,相较传统的光束法自检校,该附加直线约束的检校方法可有效提高检校结果精度。
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单位西北电力设计院; 河海大学
