可编程逻辑器件CPLD的高温动态老炼试验设计

作者：吴宏丽

来源：山西电子技术, 2023, (02): 55-59.

• 高温动态老炼试验
• CPLD
• 可靠性

复杂可编程逻辑器件(Complex Programmable Logic Device, CPLD)被广泛应用在通讯、电子、航空航天等领域的电路设计。在电路设计中，CPLD器件的可靠性将直接影响整个电路工作的稳定性。为了提高CPLD器件的可靠性，需要进行筛选试验，而老炼试验是有效的可靠性筛选试验手段。基于此，对CPLD高温动态老炼试验技术进行了研究，并以EPM7032AETC44-10N器件为例，提出了高温动态老炼试验方案设计并验证，达到了预期的设计目的。