VDMOS器件参数及IDSS失效问题研究

作者:李明; 姚雪霞; 曹婷; 刘国梁
来源:现代信息科技, 2020, 4(06): 27-30.
DOI:10.19850/j.cnki.2096-4706.2020.06.010

摘要

功率VDMOS就是垂直导电的双扩散结构器件,功率VDMOS克服了其他MOS的各种缺点,是在功率集成工艺基础上发展起来的新一代电子器件。IDSS是衡量VDMOS器件性能的一个重要参数,同时,影响VDMOS产品良率的各个参数,也是一个难以解决的问题。从VDMOS器件结构及工艺入手,对参数失效原因做了较全面的分析,总结了VDMOS器件参数失效的因素及对应的工艺控制难点。以供VDMOS工作者以及相关技术人员参考。