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摘要
着重对熔接光纤模场直径（MFD）失配和熔接点光纤折射率突变引起的光纤熔接损耗展开试验研究。对前者试验研究结果表明:采用光时域反射仪（OTDR）单向测量时,即使光纤MFD偏差<0.2μm时,测得的熔接损耗也会超过0.1dB,故建议采用OTDR双向测量平均法以减少采用OTDR单向测量法测量系统中的偶然误差;不同公司光纤的OTDR单向测量熔接损耗值较分散,故建议应提高国产光纤制备工艺技术和质量。对后者试验研究结果表明,不同MFD光纤在熔接过程中存在熔接点光纤折射率突变,其相对于进口光纤端只下降了38.24%,而相对于国产光纤端下降了43.74%,这对光纤传输损耗产生了较大影响,故建议应优化国产光纤制备工艺技术。
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单位上海大学; 江苏法尔胜光子有限公司
