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摘要
目的探索故障树分析法评价磁共振成像设备可靠性研究中的效果,为预防和控制故障的发生,提高设备可靠性提供依据。方法通过专家咨询以及对MRI设备原理和构造的分析建立MRI设备故障树,并利用布尔代数运算法则求MRI设备故障树的全部最小割集和最小路集,最后利用调研收集的国内外不同场强MRI设备的故障数据计算故障事件发生概率,并采用非参数检验分析不同MRI设备故障事件发生率的差别。结果 (1)建立起MRI设备故障树,分析出MRI设备故障树共有32个最小割集,1个最小路集。(2)国产与进口MRI设备之间进行比较,底事件中有6种故障事件发生概率的比较差异有统计学意义(P<0.05);中间事件中有2种故障发生概率比较差异有统计学意义(P<0.05)。(3)场强为3.0T和1.5T的MRI设备的比较,底事件中6种故障事件发生概率的差异有统计学意义(P<0.05)。结论通过故障树分析方法确定引起MRI设备出现故障的最小割集为32个,最小路集为1个,发现了国产与进口MRI设备以及不同场强的MRI设备之间故障事件发生概率的差异,为进一步探究原因、完善改进措施,提高设备可靠性提供依据。
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