太阳电池阻抗测量系统设计

作者：苏都; 梁鹏; 韩培德^*

来源：内蒙古大学学报(自然科学版), 2020, 51(02): 196-201.

DOI：10.13484/j.nmgdxxbzk.20200214

• 晶硅电池
• 阻抗谱
• STM32

为测量晶体硅太阳电池在不同光照强度和偏压下的阻抗特性和伏安特性,设计并制作了一种太阳电池阻抗测量系统。系统以STM32F103处理器为核心,通过I2C接入阻抗数字变换芯片AD5933,用于阻抗测量,在液晶显示屏显示结果。系统设有量程切换单元,可选择合适的量程以减小测量误差。测量系统可完成太阳电池的常规I-V特性曲线和阻抗谱的测量。分析了偏置电压对太阳电池性能的影响。实测结果表明,系统可完成激励频率为100Hz～1MHz时的扫频阻抗谱测量,阻值范围为0～10MΩ,能够满足一般实验室条件下太阳电池阻抗频谱测试的要求。

• 单位
  中国科学院半导体研究所; 集成光电子学国家重点实验室; 中国科学院大学