不同材质绝缘子污秽等级高光谱检测方法研究

作者：张血琴; 周志鹏; 郭裕钧^*; 杨坤; 吴广宁

来源：电工技术学报, 2023, 38(07): 1946-1955.

DOI：10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.211892

• 绝缘子
• 污秽等级
• 高光谱技术
• 分段直接标准化
• 支持向量机

该文提出了适用于不同材质（陶瓷、玻璃和硅橡胶）绝缘子表面污秽等级的高光谱检测方法，采集不同材质和污秽等级样本的高光谱数据，经预处理后提取标签集及检测集谱线数据；采用玻璃材质样本标签集数据建立污秽等级检测模型；并运用分段直接标准化校正陶瓷、硅橡胶样本谱线数据，实现同一模型下不同材质样本的污秽等级检测。结果表明：不同材质样本同一污秽等级下，高光谱谱线吸收峰、反射峰位置及变化趋势有明显差异；同一材质不同污秽等级谱线差异主要为幅值。检测模型对玻璃、陶瓷和硅橡胶样本的污秽等级检测准确率分别为98.3%、95.0%和91.7%，并利用人工积污试验对模型进行了验证，污秽等级检测准确率为83.3%，证明了该模型可有效实现不同材质绝缘子表面污秽等级的高光谱检测。

• 单位
  西南交通大学