基于半导体氧化钨W18O49SERS的研究

作者：**; 李鹏; 郭琳; 赵冰^*

来源：光谱学与光谱分析, 2018, 38(S1): 139-140.

• 表面增强拉曼光谱
• 半导体材料
• SERS基底
• 非化学计量的氧化钨纳米结构

表面增强拉曼光谱(SERS)是鉴定分子物种的非常强大的工具,但不幸的是它基本上限于贵金属载体(Au,Ag和Cu)。我们报告使用非化学计量的氧化钨纳米结构,海胆样W18O49纳米线作为基底材料,以放大底物—分析物分子的相互作用,导致拉曼光谱特征的显著放大[1]。丰富的表面氧空位可以带来额外的增强。据我们所知,在半导体材料中,甚至与没有"热点"的贵金属相比,其灵敏度最高。表面增强拉曼散射(SERS)效应是一种表面敏感的技术,其特征在于对于吸附在诸如粗金属的特定表面上的分子的拉曼强度增加的数量级,相对于相同数量的非金属吸附分子在溶液或气相中。

• 单位
  超分子结构与材料国家重点实验室; 吉林大学