摘要
以激光微区发射光谱分析仪结合CCD光栅光谱仪为装置,采用二谱线法,以FeⅠ356.54nm和FeⅠ358.12nm为分析线,在减压氩气下,测量了镁基体、铝基体、硅基体和低碳钢标样6-0中的激光微等离子体的电子温度及其空间分布,给出了相同基体中微等子体电子温度的空间变化趋势和不同基体中相同空间位置处的电子温度的差异并进行了分析.利用测量的结果,以CuⅠ324.75nm和ZnⅠ334.50nm为分析线,从电子温度角度探索了两分析谱线相对强度的基体效应,给出了合理的解释.
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以激光微区发射光谱分析仪结合CCD光栅光谱仪为装置,采用二谱线法,以FeⅠ356.54nm和FeⅠ358.12nm为分析线,在减压氩气下,测量了镁基体、铝基体、硅基体和低碳钢标样6-0中的激光微等离子体的电子温度及其空间分布,给出了相同基体中微等子体电子温度的空间变化趋势和不同基体中相同空间位置处的电子温度的差异并进行了分析.利用测量的结果,以CuⅠ324.75nm和ZnⅠ334.50nm为分析线,从电子温度角度探索了两分析谱线相对强度的基体效应,给出了合理的解释.