纳米SiO2表面羟基数测定的研究进展

作者：程云龙; 赵明伟^*; 高明伟; 闫若勤; 郭旭

来源：应用化工, 2022, 51(09): 2698-2703.

DOI：10.16581/j.cnki.issn1671-3206.2022.09.017

• 表面羟基
• 测定方法
• 物理法
• 化学法
• 综述

综述了纳米SiO2颗粒表面羟基数量测定的两种常用方法：物理法和化学法，并对以往学者进行纳米SiO2表面羟基数的测定以及对当前研究进展进行整理分析，总结了各方法的优势、不足及未来的发展趋势。

• 单位
  中国石油大学（华东）