非同轴射频器件校准件参数仿真技术的研究

作者：常亮; 向易; 李炎阳; 雷一鸣

来源：计量与测试技术, 2018, 45(11): 22-25.

DOI：10.15988/j.cnki.1004-6941.2018.11.007

• 射频器件
• 非同轴
• 测试夹具
• 校准件
• 仿真

随着射频器件的快速发展,要求对射频器件S参数测试技术越来越严苛,一般设计相应的测试夹具,而非同轴射频测试夹具引入的误差较大,不容忽视,有必要对非同轴射频测试夹具引入的误差进行消除。文章通过Synthesize综合,算出微带线的宽度为1. 6mm,拟设计覆盖100MHz～12. 5GHz的频率,确定SOLT校准件和TRL校准件物理尺寸。采用ADS软件分别对SOLT校准件的直通校准件仿真、短路校准件仿真、开路校准件仿真、负载校准件仿真,得出设计的SOLT校准件性能良好。类似的采用ADS软件对TRL校准件进行仿真,得出设计的TRL校准件能覆盖100MHz～12. 5GHz的频率,且传输性能良好。

• 单位
  岳阳职业技术学院; 工业和信息化部电子第五研究所