高温竖向串扰发生机理的定量研究

作者：刘俊^*; 赵达裕; 陈鹏; 郭会斌; 高玉杰

来源：液晶与显示, 2021, 36(08): 1128-1135.

• TFT-LCD
• 竖向串扰
• 定量
• 漏电流

为快速解决大尺寸薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)产品中的高温竖向串扰(V-CT)不良,本文研究了漏电流与V-CT现象间的定量关系,用以指导TFT特性相关工艺的调整。首先,基于V-CT电压梯度曲线及TFT开关实际工作状态下的漏电流,建立了一种定量表征漏电流的大小和V-CT严重程度间关系的测试方法。然后,应用此方法对客户端评测画面(CT-SEC)下发生的高温V-CT进行研究,实验结果表明:V-CT电压梯度曲线可以较好地匹配总体漏电流Ioffsub>total渐变规律。高温初始及长期信赖性评价条件下,V-CT不良的发生同显示面板面内的光照漏电流Ioff(Vglsub>GOUT-Vpixelsub>255-)强相关。