印制板组件中氯离子腐蚀失效案例分析

作者：张培强; 甘吉松; 唐雁煌; 张莹洁; 朱刚; 刘子莲^*

来源：电子产品可靠性与环境试验, 2022, 40(04): 35-40.

• 印制板组件
• 氯离子
• 失效分析
• 短路
• 打火
• 改善建议

在印制板组件众多的失效中，氯离子所引发的腐蚀、电迁移等是最为常见的失效模式。深度剖析了两个由氯离子引起电路板失效的典型案例，阐述了案例背景、分析过程、失效原因和失效机理，并提出了实际可行的解决方法与改善建议，对提高产品可靠性有一定的参考价值。

• 单位
  工业和信息化部电子第五研究所