一种用于天线近场测试的波束控制系统设计方法

作者：周云; 张启帆^*; 周一帆

来源：无线互联科技, 2023, 20(20): 19-21.

• 天线测试
• 波束控制
• 多波位

随着高性能天线的快速发展，对天线性能的要求也越来越高，这也对天线的测量带来了许多挑战。文章设计了一种用于暗室天线近场测量的波束控制系统，通过对该波束控制系统的搭建实现了对天线的快速近场测量，并在测试过程中能够实现多频点多波位同时测量。该系统不仅大大提升了天线测试的效率，而且保证了测量数据的准确性与可靠性。