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摘要
楔块斜入射检测工艺下，楔块会进一步降低全聚焦成像的缺陷检测能力。尤其是在检测大深度缺陷和粗晶材料时，全聚焦图像会因为缺陷回波幅值下降，导致缺陷图像的信噪比较低。为了提高入射能量，提出了应用于斜楔块的子孔径虚拟源全聚焦成像技术。研究结果表明：该技术通过延时控制子孔径阵元激励形成虚拟源发射，显著增加了射入到被检构件中的声能。在横向L值为20～40 mm探头移动区间内，17～38 mm深度范围内F3边钻孔幅值较黄铜全聚焦图像提高4.58～7.12 dB；当钢制试块为被检对象时，在横向L值为30～40 mm探头移动区间内，40～65 mm深度范围内F1边钻孔幅值较全聚焦图像提高0.63～2.35 dB。因此在该技术应用于楔块斜入射检测工艺下的粗晶材料检测，具有较好的检测效果。
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