基于加速老化试验的失效分析对光电器件可靠性的影响

作者：杨绸绸; 刘强

来源：科技资讯, 2013, (17): 26+28.

DOI：10.16661/j.cnki.1672-3791.2013.17.110

• 可靠性
• 加速老化试验
• 失效分析
• 光电器件
• 试验方法
• 试验流程 Reliability
• Accelerated aging test
• Failure analysis
• Optoelectronic devices
• Test methods
• Test procedure

本文介绍了通信用光电器件的加速老化试验,以及加速老化试验对通信用光电器件可靠性评估中的应用,给出了加速老化试验的基本概念、试验方法和试验流程,并分析了加速老化试验对通信用光电器件的可靠性影响以及对器件寿命的预测。为通信用光电器件在开发、生产和可靠性设计提供依据。

• 单位
  燕山大学