环保型绝缘介质C5F10O与Cu(110)晶面的气固相容性研究

作者：张然植^*; 林莘; 徐建源; 王强; 张佳

来源：高压电器, 2021, 57(03): 77-88.

DOI：10.13296/j.1001-1609.hva.2021.03.013

• C5F10O
• Cu(110)
• 气固相容性
• 密度泛函理论

为研究环保型绝缘介质C5F10O与绝缘设备内部紫铜材料间气固相容性,文中基于密度泛函理论(DFT)从微观层面对C5F10O与Cu(110)晶面展开分析。首先,采用前线分子轨道理论分析C5F10O分子官能团活性,建立C5F10O在Cu(110)晶面上吸附构型;其次,计算C5F10O在Cu(110)晶面上不同吸附构型产生吸附能及转移电荷;最后,建立SF6在Cu(110)晶面上吸附构型,分析C5F10O与SF6吸附特性差异。研究结果表明:C5F10O分子结构中氧原子活性较高,在Cu(110)晶面上不同吸附位置均可发生化学吸附反应,其中顶位吸附构型产生吸附能与转移电荷相对较大,吸附反应较容易发生;通过对比C5F10O与SF6在Cu(110)晶面上吸附特性,表明C5F10O吸附能力弱于SF6,从气固相容性方面验证了C5F10O在绝缘设备中替代SF6的潜力。

• 单位
  沈阳工业大学