摘要

电子元器件失效分析十分重要,采用新的分析技术和手段,可以快速定位失效部位,有助于电子元器件质量的提升。本文介绍了扫描电子显微镜(能谱仪)和红外光谱仪的原理特点,并利用扫描电子显微镜(能谱仪)和红外光谱仪对连接器和继电器进行失效分析和故障定位,该分析方法为电子元器件失效分析提供科学指导。

  • 单位
    贵州航天电器股份有限公司