基于PSL语言的数字集成电路功能覆盖率测试

作者：张俊; 吕宗伟

来源：电子设计技术, 2005, (6): 72-74,80.

DOI：10.3969/j.issn.1023-7364.2005.06.005

设计复杂度的增加、IP重用等当前复杂SoC/ASIC设计的特性要求对设计的功能进行更加充分的验证.基于PSL的功能覆盖率分析与传统的代码覆盖率分析共同构成了一个完整的衡量电路验证质量的尺度,这一全新设计方法学的使用将有效提高验证的质量和效率.

• 单位
  上海交通大学