利用15N(d,p)16N反应研究16F低能级质子宽度

作者：李鑫悦; 郭冰; 李志宏; 李云居; 苏俊; 庞丹阳; 颜胜权; 樊启文; 刘建成; 甘林; 韩治宇; 李二涛; 连钢; 谌阳平; 王友宝; 曾晟; 柳卫平

来源：原子能科学技术, 2021, 55(03): 391-396.

DOI：10.7538/yzk.2020.youxian.0313

• 转移反应
• 角分布
• 谱因子
• 质子宽度

16F是质子滴线附近的奇特原子核,它的所有态均不稳定,会发生质子衰变。目前16F前4个态的自旋宇称及激发能已通过实验精确测定,但能级宽度仍存在较大分歧。本工作通过15N(d,p)16N反应角分布的高精度测量,确定了16N基态和前3个激发态的谱因子;进而根据镜像核的电荷对称性,用16N的中子谱因子导出了16F基态和前3个激发态的质子宽度分别为(29.9±4.1) keV、(108±13) keV、(5.04±0.48) keV和(14.5±1.4) keV。本工作通过一个独立的实验方法为16F的质子宽度提供了一个重要的交叉检验。

• 单位
  北京师范大学; 北京航空航天大学; 深圳大学; 中国原子能科学研究院