关于国军标电子元器件密封性试验的探讨

作者：张丹丹; 武建文

来源：北京航空航天大学学报, 2004, 30(2): 173-176.

DOI：10.3969/j.issn.1001-5965.2004.02.019

• 密封
• 可靠性
• 漏气率
• 细检漏
• 国军标

通过理论分析论证了国家军用标准关于电子元器件密封性试验中存在的问题,提出了改进方案,为实现科学控制军品密封质量提供了参考依据.结合某厂密封性试验中细检漏的失效数据,说明国军标应对实验条件严格控制的必要性.

• 单位
  北京航空航天大学