一种基于ATE的反熔丝FPGA测试方法研究

作者：李岱林; 陈诚

来源：电子质量, 2021, (10): 36-40.

• FPGA
• 反熔丝
• ATE
• 测试

针对反熔丝FPGA端口测试复杂度高和稳定性差的问题,提出了一种基于ATE的反熔丝FPGA的端口测试方法,该方法仅使用一段特殊编程的测试码就可以测试出相应的电特性。经过ATE测试验证,该测试方法可以有效提高近32%的测试效率,测试的准确性也得到了保证。