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摘要
分析导电密封条的贮存环境条件影响及失效机理,确定贮存期的典型环境条件,以老化失效机理作为分析对象,基于时间-温度叠加的加速寿命预测模型,以单一温度为加速试验条件,设计导电密封条成品贮存加速寿命试验方法,可在较短的时间内评价导电密封条的贮存寿命。导电密封条贮存10年的加速寿命试验条件确定为:温度100℃,相对湿度5%,试验时间28.3d。
- 单位
分析导电密封条的贮存环境条件影响及失效机理,确定贮存期的典型环境条件,以老化失效机理作为分析对象,基于时间-温度叠加的加速寿命预测模型,以单一温度为加速试验条件,设计导电密封条成品贮存加速寿命试验方法,可在较短的时间内评价导电密封条的贮存寿命。导电密封条贮存10年的加速寿命试验条件确定为:温度100℃,相对湿度5%,试验时间28.3d。
