数字集成电路老化会对电路的稳定性与可靠性造成一定的影响,甚至会对电路的安全性造成一定的威胁。针对此问题,对集成电路老化的概念进行了解释,分析了集成电路老化的影响因素,研究了数字集成电路两种常用的老化测试技术,即老化检测技术与老化预测技术,并对两种技术进行了对比分析,根据数字集成电路具体情况的不同,运用不同的检测技术。对集成电路老化问题的有效预防与处理提供了有效的帮助与参考。
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