高阶深微盲孔的加工及其与高纵横比通孔的共镀工艺研究

作者：钟明君; 雷川; 赵鹏; 孙军; 曹磊磊; 何为; 陈苑明

来源：印制电路信息, 2023, 31(S1): 116-125.

• 高阶深微盲孔
• 高纵横比
• 控深钻及激光钻组合工艺
• 通盲共镀

为顺应电子产品微型化、多功能化的发展趋势，印制电路板的集成度也进一步提升，微小导通孔（盲孔、小孔径通孔）的孔金属化工艺作为实现高密度的关键加工环节已成为行业内的研究热点。文章介绍了控深钻+激光钻组合工艺加工L1～Ln高阶深微盲孔的方法，并总结了加工过程中的品质管控要点。同时，文章针对设计有127μm盲孔、L1～Ln高阶深微盲孔与21:1高厚径比通孔的测试板进行了通盲共镀工艺的加工方法及参数的研究。最后，文章对完成全制程加工的测试板进行了一系列信赖性测试，测试结果均满足IPC标准要求。

• 单位
  电子科技大学; 重庆方正高密电子有限公司