为了探究电缆绝缘层材料老化过程中的光学特性与老化关系，对试样进行加速热老化试验，测量了不同温度下电缆绝缘层试样的蓝光白度，采用时间-温度平移法对测试结果进行处理，结合Arrhenius方程得到不同寿命指标的电缆剩余寿命。将蓝光白度与断裂伸长率保留率的剩余寿命评估结果进行比较，结果表明，二者寿命评估基本一致，证明了蓝光白度法的可行性，为判断电缆绝缘层材料老化情况提供一种新的方法。
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