半导体器件测试文件处理之研究

作者：张奇

来源：电子测试, 2018, (02): 73-66.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2018.02.034

• 半导体器件
• 测试文件
• 处理

随着半导体技术的不断进步,半导体器件在工业科技领域的应用不断增长,为保证半导体企业输出质量上乘、品质优良的产品,对半导体器件测试的要求也不断提高。通过对半导体测试中测试数据、测试向量、测试结果等测试文件处理和分析研究,对于应用到半导体设计、制造等关键环节具有十分重要的技术意义和经济意义。