摘要

用显微荧光(μPL)方法对在我国"神舟3号"上空间生长的CdZnTe晶片中Zn组分分布的研究。对晶片的单晶"壳"区及未完全熔化的"芯"区中的小结晶区域进行了逐点PL测量.对测得每点的PL谱进行了拟合,得到测量点的禁带宽度参数Eg,其分布对应于CdZnTe中Zn的组分分布。测量结果给出了空间生长品片Zn组分布的变化趋势和统计规律.作为比较,测量并分析了一块采用相同方法在地面生长的CdZnTe 晶片。