为研究低温半导体器件如HgCdTe中长波红外探测器温度循环过程的失效机理,提出了一种基于LabVIEW的温度循环实验设备。LabVIEW既用于测试又用于步进电机等的控制,结构简单,运行高效。经过数千次温度循环实验表明,该设备运行比较稳定,能够满足对低温半导体器件的筛选要求。