摘要
<正>相移干涉计量具有极高的精度和非接触检测的优点,因此被广泛用于物体表面形变的精密测量、振动分析以及光学元件缺陷的检测等。在传统的相移干涉计量中,一般通过压电陶瓷移动反射镜和光栅来实现相位改变。由于非线性和磁滞现象,可能导致测量结果与物体的实际形貌间存在较大差
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单位瞬态光学与光子技术国家重点实验室; 中国科学院西安光学精密机械研究所
<正>相移干涉计量具有极高的精度和非接触检测的优点,因此被广泛用于物体表面形变的精密测量、振动分析以及光学元件缺陷的检测等。在传统的相移干涉计量中,一般通过压电陶瓷移动反射镜和光栅来实现相位改变。由于非线性和磁滞现象,可能导致测量结果与物体的实际形貌间存在较大差