粉末压片-X射线荧光光谱法测定含碳化硅铝质耐火材料中8种组分

作者：张蕾; 陈宁娜; 许超

来源：冶金分析, 2022, 42(06): 51-56.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.011627

• 聚酯(PET)薄膜
• 碳化硅
• 铝质耐火材料
• X射线荧光光谱法(XRF)
• 粉末压片法

含碳化硅耐火材料已广泛地应用于冶金炉料中，目前对含碳化硅耐火材料测定常采用湿法分析，然而这些方法繁琐耗时，不适合大批量检测要求。实验采用聚酯(PET)薄膜包裹粉末压片法制样，以微晶纤维素为粘结剂，选取与待测试样粒度一致、基体相似、各成分含量有梯度的铝硅系耐火材料标准样品和碳化硅标准样品，按照不同的比例，配制成各组分含量从低到高具有一定梯度含碳化硅铝质耐火材料校准样品，对其拟合校准曲线，建立了X射线荧光光谱法(XRF)同时测定含碳化硅铝质耐火材料中TSi、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、P2O5、K2O含量的快速分析方法。采用PET薄膜包裹压片不仅减少粉尘污染，把对仪器损坏的几率降到了最低，而且可以防止压片暴露在空气中，增加压片保存时间。对含碳化硅铝质耐火材料试样进行了精密度考察，各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.08%～3.7%。采用实验方法对合成含碳化硅铝质耐火材料校准样品(未用于校准曲线绘制)和实际样品进行测定，结果与参考值或国标方法的分析值相吻合。