摘要
采用溶胶-凝胶法在Pt/Si基板上制备了Y1-xDyxMnO3(x=0.0~0.5)磁性薄膜,并对薄膜的微观结构和磁性能进行表征和测试.结果表明:Y1-xDyxMnO3薄膜的晶体结构为六方结构,空间点群为P63cm.Dy3+掺杂进入到的YMnO3晶胞结构中,使晶胞参数增大,结构发生畸变,改变了MnO5与Y3+的连接方式,从而诱导Y-Mn键角发生改变致其自旋结构的倾斜度增加,提升磁性能,Y0.5Dy0.5MnO3薄膜的饱和磁化强度值Ms为2.58 emu/cm3,比YMnO3薄膜的饱和磁化强度值提高了2.8倍.高电场下的F-N机制影响了薄膜表面电荷对D-M的贡献作用,最终使自旋倾斜程度改善,薄膜磁性能提高.
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