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摘要
随着集成电路工艺不断改进， 电荷共享效应诱发的单粒子多点翻转已经成为影响芯片可靠性的重要因素. 为此提出一种有效容忍单粒子多点翻转的加固锁存器: 低功耗多点翻转加固锁存器(low power multiple node upset hardened latch， LPMNUHL). 该锁存器基于单点翻转自恢复的双联互锁存储单元(dual interlocked storage cell， DICE)， 构建三模冗余容错机制， 输出端级联“三中取二”表决器， 可以有效地容忍单粒子多点翻转， 表决输出正确逻辑值， 不会出现高阻态， 可以有效地屏蔽电路内部节点的软错误. 该锁存器能够100%容忍三点...
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