电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)测定粗硒中的硫量

作者：万双; 吕广颖; 兰福荫; 李先和

来源：山东化工, 2019, 48(18): 74-79.

DOI：10.19319/j.cnki.issn.1008-021x.2019.18.031

• 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)
• 粗硒
• 硫

粗硒样品经盐酸、硝酸消解,在硫标准溶液中加入硒溶液做基体匹配建立工作曲线,采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)测定粗硒中的硫量。通过实验选择了硫的最佳分析谱线及仪器工作参数,并对基体干扰影响进行了实验。在选定的实验条件下,硫的方法检出限为0.0215μg/mL,测定下限为0.086μg/mL。方法的加标回收率在97.8%～103.5%之间,精密度(RSD)小于1.334%。完全满足粗硒生产工艺指标控制以及贸易结算的要求。

• 单位
  阳谷祥光铜业有限公司