托卡马克等离子体杂质密度的光谱法测量研究

作者：沈永才; 符佳; 吕波; 吴斌; 石跃江; 李颖颖; 王福地; 崔正英

来源：核技术, 2016, 39(02): 69-75.

• 托卡马克
• 被动光谱诊断
• 体发射率
• 杂质输运
• 杂质密度

本文介绍了基于托卡马克等离子体被动光谱诊断获得杂质密度的方法。通过被动光谱诊断测量获得杂质线辐射的空间多道弦积分强度分布,利用强度标定系数转换为绝对光亮度分布;通过测量弦与等离子体位形,将弦积分的强度分布反演变换为径向体发射率。根据线辐射强度激发截面求出对应电离态的离子密度,最后采用杂质输运程序模拟计算得出总密度分布。以东方超环(Experimental Advanced Superconducting Tokamak,EAST)托卡马克装置上软X射线-极紫外光谱(Soft X-ray and Extreme Ultraviolet Spectrometers,XEUV)诊断测量到的Mo XXIX-Mo XXXII为例,描叙了获得Mo杂质密度分布的过程,获得的总误差小于10%。

• 单位
  安庆师范大学; 核工业西南物理研究院; 中国科学院; 中国科学技术大学; 中国科学院等离子体物理研究所