含氟基团对聚酰亚胺耐电晕及介电性能的影响

作者：赵伟^*; 宋吉祥; 陈昊; 林晓艺; 黄紫微; 周昱; 翁凌

来源：复合材料学报, 2023, 1-10.

DOI：10.13801/j.cnki.fhclxb.20230908.002

• 绝缘材料
• 含氟聚酰亚胺
• 嵌段共聚
• 三层
• 耐电晕性能
• 介电性能

电气设备的高频化趋势对绝缘材料的耐电晕老化性能及介电性能提出了更高的要求。因此，提高绝缘材料的绝缘性能对高频电力系统的发展至关重要。本文以2，2’-双(三氟甲基)-4，4’- 二氨基苯基醚(6FODA)、4，4’-二氨基二苯醚(ODA)、均苯四甲酸二酐(PMDA)为反应单体，设计制备了嵌段共聚型含氟聚酰亚胺(FPI)三层薄膜，并重点研究了材料的耐电晕性能和介电性能。结果表明：不同含氟量嵌段共聚型FPI三层薄膜的耐电晕寿命均高于纯PI三层薄膜，且随着含氟量的增加，薄膜耐电晕寿命相应增大。当ODA与6FODA摩尔比为1：9时三层薄膜的耐电晕寿命在常温(20℃)、80 kV/mm下最高可达4.0 h，是纯PI三层薄膜(1.4 h)的2.86倍。随着含氟量的增加FPI三层薄膜的介电常数呈现先减后增趋势，ODA与6FODA摩尔比为1：1时三层薄膜的介电常数在1 MHz时最低可降至2.26，介电损耗与电导率呈现先增后减趋势。介电强度随着含氟量的增加有所下降，但均高于纯PI三层薄膜，ODA与6FODA摩尔比为9：1时，三层薄膜的介电强度高达434 kV/mm。

• 单位
  哈尔滨理工大学