高速高分辨率ADC有效位测试方法研究

作者：李海涛; 李斌康; 阮林波; 田耕; 田晓霞; 渠红光; 王晶; 张雁霞

来源：电子技术应用, 2013, (05): 41-43.

DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.2013.05.024

• ADC有效位
• FFT
• ADS5400 ADC ENOB
• FFT
• ADS5400

介绍了ADC的有效位计算公式,分析了ADC的性能参数测试方法,给出了ADC的有效位测试解决方案。对FFT方法在ADC性能测试中的应用做了深入探讨,包括频谱泄露、相干采样和加窗函数等。采用一种改进的FFT方法对TI公司的ADS5400进行有效位测试,得到其在400 MS/s采样率的有效位ENOB=9.12 bit(fin=1.123 MHz)。

• 单位
  西北核技术研究所