基于扫描电子显微镜-X射线能谱的矿物自动分析系统(BPMA)测定高纯石英砂中杂质矿物

作者：温利刚; 贾木欣; 付强; 张云海; 王清; 赵建军^*

来源：中国无机分析化学, 2023, 13(08): 845-850.

• 高纯石英砂
• 杂质矿物
• 矿物自动分析系统
• BPMA
• 扫描电子显微镜
• X射线能谱

杂质矿物作为高纯石英中杂质元素主要载体之一，是高纯石英砂产品中严格限定的成分，也是影响高纯石英提纯方案的关键因素，其组成、含量及赋存特征的准确分析，对高纯石英砂产品质量评价、原料选择合理性判断及提纯方案制定均有重要意义。采用基于扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱(EDS)的工艺矿物学参数自动分析系统(BPMA)测定了SiO2纯度≥99.998%(4N8)的高纯石英砂中杂质矿物的组成、含量及嵌布特征，建立了高纯石英砂中杂质矿物的分析测定方法。结果表明，样品中石英的质量百分比为99.9988%,与高纯石英砂产品质量指标对应的SiO2纯度化学分析结果基本一致；杂质矿物主要为辉石和锆石，偶见极其微量的方解石、磷钇矿、独居石和方铅矿；石英粒度均匀，主要分布在0.020～0.208 mm;杂质矿物嵌布粒度较细，绝大多数杂质矿物粒度在43μm以下，主要以微细粒矿物包裹体的形式嵌布在石英颗粒内。方法简捷高效、测量结果准确可靠，适用于高纯石英砂中杂质矿物组成、含量及赋存特征分析测定，也可以为其他高纯物料中微量杂质矿物检测提供技术借鉴。