光单元光纤余长测量系统的MSA分析和改进

作者：田庚; 金榕; 伍光磊; 张娟芳

来源：光纤与电缆及其应用技术, 2020, (01): 5-9.

DOI：10.19467/j.cnki.1006-1908.2020.01.002

• 光单元
• 光纤余长
• 测量系统分析

光纤余长是光单元生产工艺控制的一项重要指标,影响光信号衰减和光缆使用寿命,因此光单元光纤余长需要合理设计和稳定工艺控制。精准的光纤余长测量系统是准确验证光纤余长设计和生产加工工艺是否合理的必要手段。通过使用Minitab软件结合测量系统分析(MSA)试验数据,对光单元光纤余长测量系统进行了MSA分析,寻找影响光纤余长测量精确度的关键因素,进而对光纤余长测量系统进行针对性改进。