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摘要
本发明公开了一种基于光栅干涉仪的X射线多模式成像新方法,是应用于沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位光栅、吸收分析光栅、探测器所构成的X射线光栅干涉仪中,且在沿Y轴向上中心对齐；X射线源发射的X射线入射到相位光栅被空间调制,出射X射线穿透被成像物体、吸收分析光栅后入射到探测器。空间调制X射线的强度分布被探测器测量并记录；利用提出的信号计算公式处理探测器记录的光强分布数据,能够获取被成像物体的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够解决吸收分析光栅的步进位置不满足等间距要求时,被成像物体的吸收信号、折射信号、暗场信号的定量、准确提取问题。
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