晶硅太阳能单晶电池EL缺陷分析研究

作者:代同光; 贾光亮; 贾永军; 郭永刚; 王举亮; 郭超平
来源:电子世界, 2018, (03): 144-145.
DOI:10.19353/j.cnki.dzsj.2018.03.075

摘要

重点分析研究晶硅太阳能单晶太阳电池EL常见缺陷原因,电池片EL常见缺陷主要分为原材料类导致的缺陷及过程引入缺陷类。通过对常见的EL缺陷分析研究及有利于改善电池片的产品质量,提升电池片成品的良率,还可进一步降低生产成本。