结合光学成像技术研究单颗粒碰撞电化学（英文）

作者：孙琳琳; 王伟^*; 陈洪渊^*

来源：电化学(中英文), 2019, 25(03): 386-399.

DOI：10.13208/j.electrochem.181061

• 纳米电化学
• 超微电极
• 荧光显微镜
• 表面等离激元共振显微镜
• 全息显微镜
• 电致化学发光

近年来,单颗粒碰撞技术在纳米电化学领域受到广泛关注.该技术通常控制超微电极处于某一电位,检测单个纳米颗粒随机碰撞到电极表面后产生的瞬时电流.通过分析电流信号,可以研究单个纳米颗粒的性质.尽管该技术可以检测单个纳米颗粒的电化学或电催化电流,但是传统的单颗粒碰撞技术缺乏空间分辨率,难以识别和表征特定的纳米颗粒.因此,结合光学成像技术研究单颗粒碰撞电化学来补充电化学技术缺失的空间信息已成为一种趋势.本文首先简要综述了单颗粒碰撞技术的三种检测原理,主要介绍了近年来单颗粒碰撞技术与荧光显微镜、表面等离激元共振显微镜、全息显微镜和电致化学发光相结合的研究进展,最后展望了单颗粒碰撞技术未来的发展趋势.

• 单位
  化学化工学院; 南京大学